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齿射线荧光分析仪器镀窗厚度的影响
发布时间：2020-09-01 09:03:30 点击：5167
X射线荧光分析仪器镀窗厚度是选择探测器时需要考虑的另一个要点，由于镀窗对轻元素分析谱线的强吸收，使得其探测效率很低，采用25um的镀窗，将很难测定Na等轻元素，故为分析轻元素，当然希望镀窗越薄越好。但过薄的镀窗厚度其使用寿命也会受到影响。因此选择镀窗厚度时，应根据拟分析的对象，确定合适镀窗厚度的探测器，如果没有实际需求，过分追求薄的镀窗是没有必要的。
此外，对常规X射线荧光分析而言，通常的探测器厚度已满足需求，如果需要分析重元素的K系谱线或高能粒子，探测器厚度也是需要重视的一个环节。探测器厚度越大，越有利于分析高能粒子或高能射线。
在选购一台能量探测器时，一方面要考虑探测器的分辨率，另一方面还需要考虑是将主元素测定作为分析重点，以寻求尽可能宽的浓度测定范围，还是寻求好的分辨率而偏重于微量元素分析，综合与折中大概是通常的选择。
总之，在选择探测器时，应根据拟分析对象，综合考虑分辨率、线性响应范围、钺窗厚度、探测器厚度及有效探测面积，权衡主、次、痕量元素分析范围，有所侧重，以达到有效满足多数分析项目的目的。
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